PCB印制电路板信号损耗测试技术

2.2 有效带宽法

有效带宽法（Effective Bandwidth,简称EBW）从严格意义来说是一个定性的传输线损耗α的测量，无法提供定量的插入损耗值，但是提供一个称之为EBW的参数。有效带宽 法是通过TDR将特定上升时间的阶跃信号发射到传输线上，测量TDR仪器和被测件连接后的上升时间的最大斜率，确定为损耗因子，单位MV/s.更确切地 说，它确定的是一个相对的总损耗因子，可以用来识别损耗在面与面或层与层之间传输线的变化.由于最大斜率可以直接从仪器测得，有效带宽法常用于印制 电路板的批量生产测试。EBW测试示意图如图4所示。

2.3 根脉冲能量法

根脉冲能量法（Root ImPulse Energy,简称RIE）通常使用TDR仪器分别获得参考损耗线与测试传输线的TDR波形，然后对TDR波形进行信号处理。RIE测试流程如图5所示：

2.4 短脉冲传播法

短脉冲传播法（Short Pulse Propagation,简称SPP）测试原理为利用测量两条不同长度的传输线，如30 mm和100 mm,通过测量这两个传输线线长之间的差异来提取参数衰减系数 和相位常数 ,如图6所示。使用这种方法可以将连接器、线缆、探针和示波器精度的影响降到最小。若使用高性能的TDR仪器和IFN（Impulse Forming Network），测试频率可高达40 GHz.

2.5 单端TDR差分插入损耗法

单端TDR差分插入损耗法（Single-Ended TDRto Differential Insertion Loss,简称SET2DIL）有别于采用4端口VNA的差分插损测试，该方法使用两端口TDR仪器，将TDR阶跃响应发射到差分传输线上，差分传输线末 端短接，如图7所示。SET2DIL法测量典型的测量频率范围为2 GHz ~ 12 GHz,测量准确度主要受测试电缆的时延不一致和被测件阻抗不匹配的影响。SET2DIL法优势在于无需使用昂贵的4端口VNA及其校准件，被测件的传输 线的长度仅为VNA方法的一半，校准件结构简单，校准耗时也大幅度降低，非常适合用于PCB制造的批量测试，如图8所示。