集成运算放大器参数测试仪校准装置的开发 作者： 时间：2010-06-28 来源：网络 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='//www.cghlg.com/ad/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='//www.cghlg.com/ad/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 主要技术要求如表3所示。 校准装置不确定度来源分析 集成运放参数测试仪校准装置的电压、电流等参数的不确定度来源，主要包括数字多用表、数字示波器、数字纳伏表的参数测量不准确，模拟校准装置和补偿校准装置给出参数的不准确，以及这些参数测量的重复性。 上一页 1 2 3 4 5 下一页
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