基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案

　　2.3 反馈信号格式

　　基站下发给PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信号以RS232C串行通信的数据格式进行编码，PXB或N5182B/72B根据相同的编码速率和格式进行解码得到ACK/NACK值。反馈信号由8个比特组成，1个起始位，1个停止位，无奇偶校验位。具体的数据格式如表2所示。

　　3测试结果

　　按照测试结构图搭建好测试系统并配置软件平台，启动基站及PXB或N5182B/72B，同时在示波器和基站控制端观察测试结果。

　　图6为示波器上观察到的PXB或N5182B/72B实时响应。通道1、2、3和4分别为上行信号帧头、ACK/NACK指令序列、上行信号I/Q数据以及PXB或N5182B/72B的ACK/NACK响应(高电平为ACK，低电平为NACK)。如图所示，HARQ时序响应与标准协议完全相符。

　　基站端对上行射频信号进行分集接收并解调，然后通过CRC校验对接收结果作出判断，最后得到在特定衰落模型下的系统吞吐率。

　　根据3GPP TS 36.141规定，选取PUSCH，20MHz带宽信号作为测试案例。在2根接收天线，Normal CP下，按照列出的前10个Case依次测试，结果如下：

　　4结论

　　结果表明，系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见，结果显示直观可信。同时，该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下，仅仅通过软件配置即可实现1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，从而实现基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能测试，是TD-LTE基站性能测试的理想平台。

　　推荐方案：安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪 N5106A PXB配合信号发生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整体解决方案;如果测试系统已有专用信道仿真器，则可使用安捷伦信号发生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最终测试。